EMI近場(chǎng)測(cè)試是一種測(cè)試電子設(shè)備的電磁兼容性（EMC）的方法，它通過(guò)在設(shè)備周?chē)O(shè)置接近于設(shè)備工作狀態(tài)的電磁場(chǎng)來(lái)模擬設(shè)備運(yùn)行時(shí)的情況，然后通過(guò)測(cè)試設(shè)備的敏感性來(lái)評(píng)估設(shè)備的EMC。
這種測(cè)試通常用于評(píng)估設(shè)備的EMC設(shè)計(jì)，確定設(shè)備的故障和干擾源并指導(dǎo)設(shè)備的調(diào)整和維護(hù)。在EMI近場(chǎng)測(cè)試中，測(cè)試設(shè)備通常需要放置在一種類(lèi)似于電磁屏蔽室的環(huán)境中，以確保測(cè)試環(huán)境的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。此外，測(cè)試儀器需要具備高度的靈敏度和準(zhǔn)確性，以確保準(zhǔn)確捕捉和測(cè)量局部電磁干擾信號(hào)。
EMI近場(chǎng)測(cè)試是可用于EMI排查的一種測(cè)量，因?yàn)樗灰鬁y(cè)試站點(diǎn)提供專(zhuān)門(mén)的條件就能查出能量源。然而，一致性測(cè)試是在遠(yuǎn)場(chǎng)中進(jìn)行的，而不是近場(chǎng)。人們通常不會(huì)使用遠(yuǎn)場(chǎng)，因?yàn)橛刑嗟淖兞孔屗兊脧?fù)雜起來(lái)：遠(yuǎn)場(chǎng)信號(hào)的強(qiáng)度不僅取決于源的強(qiáng)度，而且取決于輻射機(jī)制以及可能采取的屏蔽或?yàn)V波措施。
根據(jù)經(jīng)驗(yàn)需要記住，如果能觀察遠(yuǎn)場(chǎng)中的信號(hào)，那么應(yīng)該能看到近場(chǎng)中的相同信號(hào)。（然而，能觀察到近場(chǎng)中的信號(hào)而看不到遠(yuǎn)場(chǎng)中的相同信號(hào)是很可能的）
近場(chǎng)探針實(shí)際上就是設(shè)計(jì)用于拾取磁場(chǎng)（H場(chǎng)）或電場(chǎng)（E場(chǎng)）變化的天線。一般來(lái)說(shuō)，近場(chǎng)探針沒(méi)有校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，因此它們適合用于相對(duì)測(cè)量。如果對(duì)用于測(cè)量H場(chǎng)和E場(chǎng)變化的探針不熟悉，那么了解一些近場(chǎng)探針設(shè)計(jì)和使用方法：
H場(chǎng)（磁場(chǎng)）探針具有獨(dú)特的環(huán)路設(shè)計(jì)，重要的是，H場(chǎng)探針的方向是有利于環(huán)路平面與待測(cè)導(dǎo)體保持一致的，這樣布置的環(huán)路可以使磁通量線直接穿過(guò)環(huán)路。
環(huán)路大小決定了靈敏度以及測(cè)量面積，因此在使用這類(lèi)探針隔離能量源時(shí)必須十分小心。近場(chǎng)探針套件通常包含許多不同的環(huán)路大小，以便使用逐漸減小的環(huán)路尺寸來(lái)縮小測(cè)量面積。
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更新時(shí)間：2023-03-16 
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